MC方案｜如何精确快速无损测量多层钙钛矿薄膜厚度？

钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能，因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。特别地，人们发现，当钙钛矿的厚度小于400nm时，钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度；而当钙钛矿的厚度大于400nm时，效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本应用说明中，我们使用FR工具测量钙钛矿薄膜的厚度。

测量方法：用于表征的样品是两种不同厚度的CH3NH3PbBr3钙钛矿薄膜，它们位于标准ITO/SiO2/Soda-lime基底上，如示意图1所示。 使用FR-Basic VIS / NIR进行反射测量，在350-1020nm的光谱范围内操作。

结果：两种样品的典型获得的反射光谱（黑线）和拟合的反射光谱（红线），如FR监控软件所示，分别在图2a）和b）中所示。 两种测量方法的拟合在500-750nm光谱范围内进行，样品1中钙钛矿薄膜的厚度在516.9nm处测量，而样品2中的厚度在394.4nm处测量。

图2a）：样品1的实验和拟合反射光谱。在515nm处测得的厚度。          图2b）：样品2的实验和拟合反射光谱。在392nm处测得的厚度。

结论：对钙钛矿薄膜厚度测量的基本性能进行了验证。

Reference:

1 K. Wang, C.Liu, P. Du, L. Chen, J. Zhu, A. Karim, and X. Gong, “Efficiencies of perovskitehybrid solar cells influenced by filmthicknessand morphologyof CH3NH3PbI3-xClx layer,” Org. Electron. physics, Mater. Appl., vol. 21, no. February, pp.19–26,2015.

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