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MC服务|解锁薄膜测厚新姿势,免费测样服务来啦! 二维码
![]() 您还在为精准测试薄膜层厚度而烦恼吗?让我们为您排忧解难。目前我司测试中心有一台膜厚仪样机,型号FR-pRo VIS/NIR(370-1020nm),可为您提供免费测样服务。名额有限,快来申请哦 ![]() ![]() ![]() FR-pRo系列 是一款模块化、可扩展,基于光的反射光谱的膜厚仪。非接触、无损测量、安全无辐射,快速膜厚分析,只需几秒即可获得测量结果。测量范围 1nm - 300μm;极高的分析准确度,在整个厚度测量范围内偏差小于 1nm;可同时分析计算最多6层膜厚;可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析。可应用范围:半导体、有机电子、聚合物、涂料、光伏、生物传感、化学传感…… 测试案例 案例一 测试样片:ITO 材料厚度约 120nm;PEDOT 材料厚度是 40nm。
![]() ① 测试样片 ![]() ② 测片中 案例二 测试样片:
![]() ① 测试样片 ![]() ② 测片中 测试结果: 测样流程 所测试样品需在我们样机测试范围内,特殊基底需提前告知,确认后方可快递样品测试,回复时间约2-3天。 寄送测试样品前,需妥善包装稳固,样品需用记号笔写好对应的材质,正反面等信息。 样品收件地址:湖北省武汉市洪山区珞珈山大道特1 号珞珈山大厦A 座1506 室,熊浩(收),电话:18971121198。(注:测试中心无法接收到付件) 在收到样品后的2周内会给出电子版的测试结果报告。 产品询问表
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