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MC服务｜解锁薄膜测厚新姿势，免费测样服务来啦！ 二维码
 您还在为精准测试薄膜层厚度而烦恼吗？让我们为您排忧解难。目前我司测试中心有一台膜厚仪样机，型号FR-pRo VIS/NIR(370-1020nm)，可为您提供免费测样服务。名额有限，快来申请哦    FR-pRo系列 是一款模块化、可扩展，基于光的反射光谱的膜厚仪。非接触、无损测量、安全无辐射，快速膜厚分析，只需几秒即可获得测量结果。测量范围 1nm - 300μm；极高的分析准确度，在整个厚度测量范围内偏差小于 1nm；可同时分析计算最多6层膜厚；可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析。可应用范围：半导体、有机电子、聚合物、涂料、光伏、生物传感、化学传感…… 测试案例 案例一 测试样片：ITO 材料厚度约 120nm；PEDOT 材料厚度是 40nm。
 ① 测试样片  ② 测片中
案例二 测试样片：
 ① 测试样片  ② 测片中 测试结果：
测样流程 所测试样品需在我们样机测试范围内，特殊基底需提前告知，确认后方可快递样品测试，回复时间约2-3天。 寄送测试样品前，需妥善包装稳固，样品需用记号笔写好对应的材质，正反面等信息。 样品收件地址：湖北省武汉市洪山区珞珈山大道特1 号珞珈山大厦A 座1506 室，熊浩（收），电话：18971121198。（注：测试中心无法接收到付件） 在收到样品后的2周内会给出电子版的测试结果报告。
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