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 FR-uProbe微米级薄膜表征
FR-uProbe 是一种涂层特性应用的解决方案，光斑尺寸小于极少数微米，例如微模式表面、具有高度散射光的不规则表面的样品和许多其他样品。
FR-uProbe是一种独立工具适用于需要小至几um的光点尺寸的应用，例如带有微图案的表面，显示出高水平散射光的样品以及其他众多样品。 使用FR-uProbe，局部膜厚，光学常数，反射率，透射率和吸光度测量只需单击一下即可获得UV/VIS/NIR。 FR-uProbe 只需连接到大多数商用光学显微镜的C型安装适配器，并提供: o 实时光谱测量 o 薄膜厚度、光学性能、非均匀性测量 o 使用集成的、USB连接的高品质彩色摄像头进行图像处理 o 显微镜本身未受影响 产品特点： o 单点击分析（无需初步预判） o 动态测量 o n＆k的测量，包括颜色 o 保存演示视频 o 数据库中650多种不同材料 o 免费软件更新 o 多个装置进行离线分析 应用领域： o 大学和研究实验室 o 半导体（氧化物，氮化物，硅，抗蚀剂等） o MEMS器件（光刻胶，硅膜等） o 发光二极管 o 数据存储 o 阳极氧化 o 弯曲基材上的硬/软涂层 o 聚合物涂料胶粘剂等 o 生物医学（聚对二甲苯，球囊壁厚等） 规格参数：
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