探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。

这款四点探针系统成本低、测量范围广、操作简单，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。 探头采用弹簧加载接触，而不是尖锐的针头，防止损坏精密样品，如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。

四点探针系统为您的研究提供以下益处：

•广泛的薄膜电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□；

•弹簧加载的探针保护易损的样品免受损坏；

•体积小巧，可用于空间有限的繁忙实验室；

•易操作的PC软件，用于薄膜电阻，电阻率和电导率的测量；

•使用自动校正因子计算加快材料表征；

•使用保存设置可轻松重复测量；

产品参数要求：

测量规格

物理规格

软件要求