Supply Globally,Serve Locally
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 Ossila四点探针系统
低成本、测量范围广、操作简单，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。 探头采用弹簧加载接触，而不是尖锐的针头，防止损坏精密样品，如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。
四点探针系统为您的研究提供以下益处： •广泛的薄膜电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□ •弹簧加载的探针保护易损的样品免受损坏 •体积小巧，可用于空间有限的繁忙实验室 •易操作的PC软件，用于薄膜电阻，电阻率和电导率的测量 •使用自动校正因子计算加快材料表征 •使用保存设置可轻松重复测量 产品规格
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